Course EIT-EMS-656-K-4
Advanced Laboratory on Microelectronics (4L, 5.0 LP)
Course Type
| SWS | Type | Course Form | CP (Effort) | Presence-Time / Self-Study | |
|---|---|---|---|---|---|
| 4 | L | Laboratory course | 5.0 CP | 56 h | 94 h |
| (4L) | 5.0 CP | 56 h | 94 h | ||
Basedata
| SWS | 4L |
|---|---|
| CP, Effort | 5.0 CP = 150 h |
| Position of the semester | 1 Sem. in SuSe |
| Level | [4] Bachelor (Specialization) |
| Language | [EN] English |
| Lecturers |
+ further Lecturers of the department Electrical and Computer Engineering
|
| Area of study | [EIT-EMS] Microelectronic Systems Design |
| Livecycle-State | [NORM] Active |
Contents
- Test und Charakterisierung von Operationsverstärkern
- Testen und Messungen an drahtlosen Sensorknoten
- Layout Extraktion und Schaltungssimulation
- Modellierung einer DLX RISC Architektur in VHDL auf der Register-Transfer-Ebene:
- Cachecontroller für DLX-RISC Architektur
- Applikationsspezifische Erweiterung des DLX Instruktionssatzes (ASIP)
Literature
bei den einzelnen Versuchsanleitungen angegeben
Materials
diese werden mit den Versuchsanleitungen ausgegeben
Registration
Anmeldung bis zur zweiten Vorlesungswoche erforderlich über eine Webplattform
Requirements for attendance (informal)
Modules:
- [EIT-EIS-314-M-2] Fundamentals of Information Processing (M, 6.0 LP)
- [EIT-EIS-571-M-4] Architecture of Digital Systems I (M, 4.0 LP)
- [EIT-EIS-573-M-4] Architecture of Digital Systems II (M, 4.0 LP)
- [EIT-EMS-708-M-4] Fundamentals of Microelectronics (M, 4.0 LP)
- [EIT-ISE-105-M-2] Electrical Measurement Technique I (M, 4.0 LP)
- [EIT-ISE-106-M-5] Electrical Measurement Technique II (M, 3.0 LP)
Requirements for attendance (formal)
None
References to Course [EIT-EMS-656-K-4]
| Module | Name | Context | |
|---|---|---|---|
| [EIT-EMS-656-M-4] | Advanced Laboratory on Microelectronics | P: Obligatory | 4L, 5.0 LP |